WISTEK
US7209212B2
M351418

 

 

 

 


M379057  專利名稱  中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置
 

公告日2010/04/21

證書號M379057

申請日2009/12/08

申請號098222883

國際分類號
/IPC  G01M-011/04(2006.01)

公報卷期37-12

發明人

李昆益 TW;
陳德請 TW

摘要

本創作係有關一種中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其包括一測試部、一發光部及一功率量測裝置;先以發光部之準直光源將準直光照射至測試部上之待測件的凹面反射部,控制功率量測裝置沿測試部之虛據光軸移動,當移動到焦點區域可量得凹面反射部上反射後聚焦之準直光的最大功率值,再改以發光部之點光源取代準直光源,控制點光源沿虛擬光軸移動並發出放射狀光線,當移動到聚光位置可使照射到凹面反射部的放射狀光線沿原路徑反射回點光源,再將焦點區域到聚光位置間的移動距離乘以2,即量得待測件之曲率半徑,故,本案兼具由焦點及球心測量曲率半徑相當精準與結構相當簡單等優點及功效。


【創作特點】


本新型之目的,在於提供一種中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其兼具由焦點及球心測量曲率半徑相當精準與結構相當簡單之功效。特別是,本新型所欲解決之問題包括:沒有簡單、成本低又可準確測量中空凹面反射鏡之曲率半徑的裝置。
解決上述問題之技術手段係提供一種中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其包括一測試部、一發光部及一功率量測裝置;其中:該測試部,係具有一虛擬光軸,該測試部用以設置一待測件,其具有一凹面反射部;該發光部,係包括一準直光源及一點光源;該準直光源用以發出一沿該虛擬光軸照射該待測件之凹面反射部的準直光;該點光源係可沿該虛擬光軸移動並發出複數的放射狀光線;藉此,當使用並控制該準直光源朝該待測件之凹面反射部發射準直光,且控制該功率量測裝置沿該虛擬光軸移動,則當移動到一焦點區域,係可從該凹面反射部反射後聚焦之準直光量測到最大之功率值;當改用該點光源發出複數的放射狀光線,並控制該點光源從該焦點區域開始沿該虛擬光軸移動,直到移動至一聚光位置,可使照射於凹面反射部之放射狀光線沿原路徑反射回點光源;則配合公式,將焦點位置至聚光位置間的移動距離乘以2,即量得該待測件之曲率半徑。
本創作之上述目的與優點,不難從下述所選用實施例之詳細說明與附圖中,獲得深入瞭解。
茲以下列實施例並配合圖式詳細說明本創作於後:

 

 

 

 

專利範圍

一種中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其包括一測試部、一發光部及一功率量測裝置;其中:該測試部,係具有一虛擬光軸,該測試部用以設置一待測件,其具有一凹面反射部;該發光部,係包括一準直光源及一點光源;該準直光源用以發出一沿該虛擬光軸照射該待測件之凹面反射部的準直光;該點光源係可沿該虛擬光軸移動並發出複數的放射狀光線;藉此,當使用並控制該準直光源朝該待測件之凹面反射部發射準直光,且控制該功率量測裝置沿該虛擬光軸移動,則當移動到一焦點區域,係可從該凹面反射部反射後聚焦之準直光量測到最大之功率值;當改用該點光源發出複數的放射狀光線,並控制該點光源從該焦點區域開始沿該虛擬光軸移動,直到移動至一聚光位置,可使照射於凹面反射部之放射狀光線沿原路徑反射回點光源,再配合公式,將焦點位置至聚光位置間的移動距離乘以2,即量得該待測件之曲率半徑。
如申請專利範圍第1項所述之中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其中,該待測件係為中空球面形凹面反射鏡。
如申請專利範圍第1項所述之中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其中,該準直光源係設一合光鏡及一準直光透鏡,而將該準直光照射至該凹面反射部。
如申請專利範圍第1項所述之中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其中,該功率量測裝置係為測熱電阻型功率計,其包括一熱變電阻及一功率表;該熱變電阻係作為功率傳感元件,該功率表用以顯示感測到之準直光之功率。
如申請專利範圍第1項所述之中空球面形凹面反射鏡曲率半徑量測裝置,其又包括:一目鏡,係與該虛擬光軸及該準直光透鏡同軸,用以目視觀察從該凹面反射部上反射之準直光與放射狀光線;一光學尺,係用以量測該功率量測裝置與該點光源之移動距離。
第一圖係本創作之使用準直光源之立體示意圖
第二圖係第一圖之示意圖
第三圖係第二圖之測量準直光之功率之示意圖
第四圖係本創作之使用點光源之立體示意圖
第五圖係第四圖之示意圖
第六、第七及第八圖係分別為本創作之量測不同位置之點光源之功率之示意圖
第九圖係本創作之待測件反射之準直光源與點光源之最大功率之曲線圖

/M379057.pdf

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